<P>Die Einhaltung der Elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) gehört zu den Anforderungen an elektrische und elektronische<BR>Geräte und Baugruppen, die im Rahmen von gesetzlichen Anforderungen wie z.B. dem EMV–Gesetz nachzuweisen sind. Den eingesetzten Halbleitern kommt dabei eine zentrale Bedeutung zu, da diese in den meisten Fällen sowohl Quelle als auch Senke von elektromagnetischen Störungen im Kontext der EMV darstellen. Die Erfahrung der zurückliegenden Jahre zeigte, dass z.B. Pin– und Funktionskompatible ICs beim Einsatz in Geräten zu stark unterschiedlichen EMV–Eigenschaften führen können. Diese atsache führte zur Entwicklung von speziellen EMV–Messverfahren für Halbleiter, um eine allgemeingültige Bewertung des Halbleiters vornehmen zu können, die unabhängig von den späteren, teilweise sehr unterschiedlichen Einsatzbedingungen ist. In<BR>Fortführung entstanden Testspezifikationen für Halbleiter, die in besonderem Maße die EMV von Geräten mit bestimmen. Diese Testspezifikationen basieren auf den entwickelten genormten Messverfahren und werden teilweise schon langjährig erfolgreich zur Bewertung und Optimierung der EMVEigenschaften von Halbleitern eingesetzt. </P> <P> <B>Keywords:</B></P> <P> eine Systematisierung der relevanten EMV–Phänomene für den Halbleiter und die Zuordnung der forderungen aus unterschiedlichen Anwendungsgebieten<BR>�� die Vorstellung und Systematisierung der genormten EMV–Messverfahren sowie Hinweise für deren Anwendung<BR>�� ein Überblick zu derzeitig entwickelten und von Kunden der Halbleiterindustrie geforderten Testspezifikationen für spezielle Halbleiter (z.B. Mikrokontroller und Bustreiber in der Automobilindustrie)<BR>�� die Einbeziehung von verschiedenen Modellen für den Halbleiter zur EMV–Simulation<BR>�� die Einbindung des Halbleiterherstellers in den Qualifikationsprozess von Baugruppen, Korrelationserfahrungen und Anforderungskataloge an Beispiel der Automobilzuliefererindustrie<BR>�� die Ableitung von Designrichtlinien für die Baugruppe unter Einbeziehung der analysierten EMV–Eigenschaften<BR>des Halbleiters.</P>
Abbrevation
GMM-Workshop
City
Frankfurt
Country
Germany
Start Date
End Date
Abstract