<span style="FONT–SIZE: small"><font size="2"> <p style="MARGIN–BOTTOM: 0cm" align="justify"><span style="FONT–SIZE: small"><font size="2">Die Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs– und Systementwurf (RSS) der GI/GMM/ITG führt die Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (ZUE) 2011 in Hamburg–Harburg durch.</font></span></p> </font><p style="MARGIN–BOTTOM: 0cm" align="justify"><font size="2"></font><span style="FONT–SIZE: small"><font size="2">Sicherheit und Robustheit mikroelektronischer Schaltungen und Systeme bilden dieses Jahr den besonderen Schwerpunkt der Fachtagung. Sicherheitskritische Anwendungen finden sich nicht mehr nur in der Luft– und Raumfahrt und in eng umgrenzten Bereichen wie etwa der Verkehrstechnik, sondern zunehmend in Massenanwendungen des alltäglichen Lebens. Beispielsweise stellen Elek–tromobilität, Autonomie und direkte Interaktion mit der Umwelt in <em>„Cyber Physical Systems“ </em>außerordentlich hohe Anforderungen an die Sicherheit, deren Verifizierung und Zertifizierung. Standards wie ISO 26262 haben entscheidenden Einfluss auf den Entwurfs– und Herstellungsprozess mikroelektronischer Systeme.</font></span></p> <p style="MARGIN–BOTTOM: 0cm" align="justify"><span style="FONT–SIZE: small"><font size="2">Die Sicherstellung der Robustheit solcher Systeme gegen innere und äußere Störungen betrifft den gesamten Lebenszyklus von der Steigerung der Ausbeute während der Fertigung über den Test nach der Produktion und im Betrieb bis zur Implementierung von Fehlertoleranzmaßnahmen.</font></span></p> <p style="MARGIN–BOTTOM: 0cm" align="justify"><span style="FONT–SIZE: small"><font size="2">Effektive und effiziente Lösungen können nicht mehr erzielt werden, in dem man einzelne Entwurfsebenen getrennt betrachtet, sondern verlangen die Umsetzung eines sogenannten „Cross Layer“ Ansatzes, der Ebenen übergreifend entwickelt werden muss. Aus diesem Grund haben sich die unterschiedlichen Fachgruppen des RSS zusammengetan, um die Entwicklung integrierter Lösungsansätze zu unterstützen. Ausbeute, Diagnosefähigkeit von mikro– und nanoelektronischen Systemen sollen durch Fehlertoleranz, integrierte Reparaturmechanismen und Diagnosehilfsmittel gewährleistet werden. Ihre Qualität ist durch entsprechende Entwurfs–, Verifikations– und Testverfahren über alle Systemebenen hinweg, von der Halbleiterbauelementeebene über die Steuergeräte bis zum gesamten System sicher zu stellen.</font></span></p> <p style="MARGIN–BOTTOM: 0cm" align="justify"><span style="FONT–SIZE: small"><font size="2">Zu diesen und angrenzenden Bereichen laden wir ein, wissenschaftliche Beiträge aus Theorie und industrieller Praxis einzureichen. Die Einsendungen werden einer umfassenden Begutachtung unterzogen und die angenommenen Artikel werden in einem Tagungsband veröffentlicht.</font></span></p></span>
Abbrevation
ZuE 2011
City
Hamburg-Harburg
Country
Germany
Deadline Paper
Start Date
End Date
Abstract